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| Data do documento | Título | Autor(es) |
|---|---|---|
| 2019 | Gypsum : an environment-friendly, inexpensive and robust height calibration standard at nanometer-scale for atomic force microscopy. | Barboza, Ana Paula Moreira; Santos, Joyce Cristina da Cruz; Pinto, Elisângela Silva; Neves, Bernardo Ruegger Almeida |
| 2019 | Electrochemical atomic layer epitaxy deposition of ultrathin SnTe films. | Manhabosco, Taíse Matte; Aloni, Shaul; Kuykendall, Tevye R.; Manhabosco, Sara Matte; Batista, Ana Bárbara; Soares, Jaqueline dos Santos; Barboza, Ana Paula Moreira; Oliveira, Alan Barros de; Batista, Ronaldo Junio Campos; Urban, Jeffrey J. |
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